- 产品型号 SN74BCT8244ADWR
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS Yes
- 描述 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- 分类 专业逻辑
-
PDF
库存:1500
技术细节
- 安装类型 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- 匝数 Surface Mount
- 注记 8
- 电压 Scan Test Device with Buffers
- 扭矩 - 螺丝 0°C ~ 70°C
- 宽度 4.5V ~ 5.5V
- 最大交流电压 24-SOIC
相关产品
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
库存: 39
